電工電子產品環境試驗國家相關標準
一、gb/t2423 有以(yi)下51個標準組成： 1 gb/t 2423.1-2001 電工(gong)電子產品(pin)環境(jing)試驗(yan) 第2部(bu)分: 試驗(yan)方法 試驗(yan)a: 低溫
2 gb/t 2423.2-2001 電工(gong)電子產品環境試驗(yan) 第2部分: 試驗(yan)方法(fa) 試驗(yan)b: 高溫
3 gb/t 2423.3-1993 電工電子產品基本環境試驗(yan)規程 試驗(yan)ca:恒定濕熱(re)試驗(yan)方法
4 gb/t 2423.4-1993 電工(gong)電子產(chan)品基(ji)本(ben)環(huan)境試驗(yan)規程 試驗(yan)db: 交變(bian)濕熱試驗(yan)方法
5 gb/t 2423.5-1995 電(dian)(dian)工電(dian)(dian)子產(chan)品環境試驗 第二部分：試驗方法 試驗ea和(he)導(dao)則: 沖擊
6 gb/t 2423.6-1995 電工電子(zi)產(chan)品環境(jing)試驗 第二部(bu)分: 試驗方法 試驗eb和導則： 碰撞
7 gb/t 2423.7-1995 電工電子產品環境試(shi)(shi)驗(yan)(yan) 第二部分: 試(shi)(shi)驗(yan)(yan)方法 試(shi)(shi)驗(yan)(yan)ec和導則: 傾跌(die)與翻倒 (主(zhu)要用于設備型樣品)
8 gb/t 2423.8-1995 電工電子產品環境試驗 第二(er)部分: 試驗方法 試驗ed: 自由(you)跌落(luo)
9 gb/t 2423.9-2001 電工電子產品環境試(shi)驗(yan) 第2部分(fen): 試(shi)驗(yan)方法(fa) 試(shi)驗(yan)cb: 設備用恒定(ding)濕熱
10 gb/t 2423.10-1995 電工電子產品環境(jing)試驗(yan)(yan) 第二部分: 試驗(yan)(yan)方法 試驗(yan)(yan)fc和(he)導則(ze): 振動(dong)(正弦(xian))
11 gb/t 2423.11-1997 電工電子(zi)產品環(huan)境試驗(yan) 第(di)2部分: 試驗(yan)方法 試驗(yan)fd: 寬頻帶隨(sui)機振動--一(yi)般要求
12 gb/t 2423.12-1997 電工電子產品環(huan)境試(shi)驗 第2部分: 試(shi)驗方(fang)法(fa) 試(shi)驗fda: 寬頻帶隨機振動--高再(zai)現(xian)性
13 gb/t 2423.13-1997 電工電子(zi)產品環境試驗 第2部分(fen): 試驗方法 試驗fdb: 寬頻帶隨機振(zhen)動 中再現性
14 gb/t 2423.14-1997 電(dian)工電(dian)子產品環境(jing)試驗 第2部分(fen): 試驗方法 試驗fdc: 寬頻帶隨機(ji)振動 低(di)再現性
15 gb/t 2423.15-1995 電(dian)(dian)工(gong)電(dian)(dian)子產(chan)品環境(jing)試(shi)驗(yan) 第二部(bu)分: 試(shi)驗(yan)方法 試(shi)驗(yan)ga和導則(ze): 穩態加速度
16 gb/t 2423.16-1999 電(dian)工電(dian)子產品環境(jing)試驗 第2部分(fen): 試驗方法 試驗j和導(dao)則: 長霉(mei)
17 gb/t 2423.17-1993 電工電子產品(pin)基本環境試驗(yan)規(gui)程(cheng) 試驗(yan)ka: 鹽霧試驗(yan)方法
18 gb/t 2423.18-2000 電(dian)工(gong)電(dian)子產(chan)品環境試(shi)驗(yan) 第二部分: 試(shi)驗(yan)--試(shi)驗(yan)kb:鹽(yan)霧, 交變(氯化(hua)鈉溶液(ye))
19 gb/t 2423.19-1981 電工電子產品基本環境試驗(yan)規(gui)程 試驗(yan)kc: 接(jie)觸點和連接(jie)件(jian)的二(er)氧化(hua)硫試驗(yan)方法
20 gb/t 2423.20-1981 電工電子產(chan)品基本(ben)環境試(shi)驗(yan)規(gui)程 試(shi)驗(yan)kd: 接(jie)觸點和連接(jie)件的硫化氫試(shi)驗(yan)方(fang)法
21 gb/t 2423.21-1991 電工電子產品基本環境(jing)試驗(yan)規(gui)程 試驗(yan) m: 低氣壓(ya)試驗(yan)方法
22 gb/t 2423.22-2002 電工電子產品(pin)環(huan)境試(shi)驗 第2部分: 試(shi)驗方法 試(shi)驗n: 溫度(du)變(bian)化(hua)
23 gb/t 2423.23-1995 電工電子產品環境試(shi)驗 試(shi)驗q:密封
24 gb/t 2423.24-1995 電(dian)工(gong)電(dian)子產(chan)品環境試(shi)驗(yan)(yan) 第二(er)部分: 試(shi)驗(yan)(yan)方法 試(shi)驗(yan)(yan)sa: 模擬地面上的太(tai)陽輻射(she)
25 gb/t 2423.25-1992 電(dian)(dian)工(gong)電(dian)(dian)子產品基本環境試(shi)驗(yan)規程 試(shi)驗(yan)z/am: 低(di)溫／低(di)氣壓綜合試(shi)驗(yan)
26 gb/t 2423.26-1992 電工電子(zi)產品基(ji)本環境試驗規(gui)程 試驗z/bm: 高(gao)溫(wen)／低氣(qi)壓綜合試驗
27 gb/t 2423.27-1981 電(dian)(dian)工電(dian)(dian)子產(chan)品基本(ben)環境試驗(yan)規(gui)程 試驗(yan)z/amd:低(di)(di)溫(wen)/ 低(di)(di)氣壓 /濕熱連續綜合(he)試驗(yan)方法
28 gb/t 2423.28-1982 電(dian)工電(dian)子產品(pin)基(ji)本環境(jing)試驗(yan)(yan)規(gui)程 試驗(yan)(yan)t:錫(xi)焊試驗(yan)(yan)方法(fa)
29 gb/t 2423.29-1999 電工(gong)電子產品環(huan)境試(shi)(shi)驗 第2部分(fen): 試(shi)(shi)驗方(fang)法 試(shi)(shi)驗u:引出端及整體安裝件強(qiang)度
30 gb/t 2423.30-1999 電工電子(zi)產品(pin)環(huan)境試(shi)(shi)驗 第2部分: 試(shi)(shi)驗方法 試(shi)(shi)驗xa和導則:在(zai)清洗(xi)劑中浸(jin)漬
31 gb/t 2423.31-1985 電工電子產品基本環境試驗規程 傾斜和搖擺試驗方法
32 gb/t 2423.32-1985 電工(gong)電子產品(pin)基本環(huan)境試(shi)驗(yan)規程(cheng) 潤濕稱量法(fa)可焊性試(shi)驗(yan)方(fang)法(fa)
33 gb/t 2423.33-1989 電工電子產品(pin)基本環境試驗(yan)規程 試驗(yan)kca:高濃度二氧化硫試驗(yan)方法
34 gb/t 2423.34-1986 電(dian)工電(dian)子產品(pin)基本環(huan)境試(shi)驗規(gui)程 試(shi)驗z/ad: 溫度/ 濕度組(zu)合循環(huan)試(shi)驗方法
35 gb/t 2423.35-1986 電工電子產品基本環(huan)境(jing)試驗(yan)規(gui)程(cheng) 試驗(yan)z/afc:散熱(re)和(he)非散熱(re)試驗(yan)樣品的(de)低溫(wen)/ 振動(正(zheng)弦)綜(zong)合試驗(yan)方(fang)法
36 gb/t 2423.36-1986 電(dian)工電(dian)子產品基本環(huan)境試驗規程(cheng) 試驗z/bfc:散熱和非散熱樣品的高溫(wen)/ 振動(正(zheng)弦)綜合(he)試驗方法(fa)
37 gb/t 2423.37-1989 電(dian)工(gong)電(dian)子產品基本環境試驗(yan)規程 試驗(yan) l: 砂塵試驗(yan)方法
38 gb/t 2423.38-1990 電工電子(zi)產品(pin)基本(ben)環(huan)境試(shi)驗(yan)規(gui)程 試(shi)驗(yan) r: 水(shui)試(shi)驗(yan)方法
39 gb/t 2423.39-1990 電工電子產品基本環境試驗規(gui)程 試驗ee: 彈跳試驗方法
40 gb/t 2423.40-1997 電(dian)工電(dian)子產品環境試驗(yan) 第2部分(fen): 試驗(yan)方法 試驗(yan)cx:未(wei)飽和(he)高壓蒸汽恒定濕熱
41 gb/t 2423.41-1994 電工電子產品基本環境試驗規(gui)程 風壓試驗方法
42 gb/t 2423.42-1995 電(dian)工(gong)電(dian)子(zi)產品(pin)環境試(shi)驗 低溫(wen)/低氣壓(ya)/振動(dong)(正弦)綜合試(shi)驗方(fang)法
43 gb/t 2423.43-1995 電(dian)工(gong)電(dian)子(zi)產品環境試驗 第二(er)部分: 試驗方法(fa) 元件、設備和其他產品在沖擊(ea) 、碰撞 (eb) 、振動(fc和fb)和穩態(tai)加速度(ca)等動力學試驗中(zhong)的(de)安裝(zhuang)要求和導則(ze)
44 gb/t 2423.44-1995 電工電子產品環境試(shi)驗 第二(er)部分: 試(shi)驗方法 試(shi)驗eg: 撞擊 彈(dan)簧錘
45 gb/t 2423.45-1997 電(dian)工電(dian)子(zi)產品環(huan)境試驗(yan)(yan) 第2部分：試驗(yan)(yan)方法 試驗(yan)(yan)z/abdm：氣候順序
46 gb/t 2423.46-1997 電工電子產(chan)品(pin)環境試(shi)(shi)驗(yan) 第2部分：試(shi)(shi)驗(yan)方法 試(shi)(shi)驗(yan)ef：撞擊(ji) 擺錘(chui)
47 gb/t 2423.47-1997 電工電子產品(pin)環境試驗 第2部分: 試驗方法(fa) 試驗fg: 聲振
48 gb/t 2423.48-1997 電(dian)工電(dian)子產品環(huan)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗ff: 振動--時間歷程法
49 gb/t 2423.49-1997 電工電子產品環境試(shi)驗(yan)(yan) 第2部分: 試(shi)驗(yan)(yan)方(fang)法 試(shi)驗(yan)(yan)fe: 振(zhen)動--正(zheng)弦拍頻法
50 gb/t 2423.50-1999 電工(gong)電子產品環境試(shi)驗(yan)(yan) 第2部分: 試(shi)驗(yan)(yan)方(fang)法(fa) 試(shi)驗(yan)(yan)cy:恒定濕(shi)熱主要(yao)用于元件的加速試(shi)驗(yan)(yan)
51 gb/t 2423.51-2000 電(dian)工電(dian)子產品環境試(shi)(shi)驗(yan)(yan) 第2部分: 試(shi)(shi)驗(yan)(yan)方(fang)法 試(shi)(shi)驗(yan)(yan)ke: 流動混合(he)氣體腐蝕試(shi)(shi)驗(yan)(yan)
二、gb2421-89 電工電子(zi)產品(pin)基本環境(jing)試(shi)驗規程(cheng) 總則
三、gb/t2422-1995 電工電子產品環(huan)境試驗(yan) 術(shu)語
四(si)、gb2424 1.gb2424.1-89 電工電子產品基本環境試驗(yan)規程(cheng) 高(gao)溫(wen)低溫(wen)試驗(yan)導則
2.gb/t2424.2-93電工電子產品基本環(huan)境試(shi)驗規程 濕(shi)熱試(shi)驗導(dao)則
3.gb/t2424.9-90 電(dian)工電(dian)子產品(pin)基(ji)本環境試驗(yan)規程 長霉試驗(yan)導則(ze)
4.gb/t2424.10-93 電(dian)工(gong)電(dian)子產品基(ji)本環境試驗(yan)規程(cheng) 大氣腐蝕加速(su)試驗(yan)的通(tong)用(yong)導則(ze)
5.gb/t2424.11-82 電(dian)工電(dian)子產品基本(ben)環境試驗規程(cheng) 接觸點和鏈接件的(de)二氧化(hua)硫試驗導則
6.gb/t2424.12-82 電(dian)工電(dian)子產(chan)品基本環境試驗規(gui)程 接觸點和連(lian)接件(jian)的硫化氫(qing)試驗導則
7.gb/t2424.13-81 電工電子產品基本環(huan)境試驗(yan)規程 溫度變(bian)化試驗(yan)導則
8.gb/t2424.14-1995 電工電子產品基本環境試驗(yan)規程 第2部分 ：試驗(yan)方法 太陽輻射試驗(yan)導(dao)則
9.gb/t2424.15-92 電工(gong)電子(zi)產品基本環境試驗(yan)規程 溫度/低氣壓綜合(he)試驗(yan)導(dao)(dao)則 10.gb/t2424.17-1995 電工(gong)電子(zi)產品基本環境試驗(yan)規程 錫焊(han)試驗(yan)導(dao)(dao)則
11.gb/t2424.18-82 電工(gong)電子產品基本環境(jing)試(shi)驗(yan)規程(cheng) 在(zai)清洗濟(ji)中浸漬試(shi)驗(yan)導則(ze)
12.gb/t2424.19-84 電(dian)工電(dian)子產品基本環境試驗規程 模擬儲存影響的環境試驗導則
13.gb/t2424.20-85 電(dian)工電(dian)子產品基本環境試(shi)驗規程 傾斜和搖擺試(shi)驗導(dao)則(ze)
14.gb/t2424.21-85電工電子產(chan)品(pin)基本環境試驗規程 潤濕稱量法(fa)可焊性試驗導則(ze)
15.gb/t2424.22-86電工電子產品基本環境試(shi)驗規程(cheng) 溫(wen)度（低(di)溫(wen)、高溫(wen)）和振(zhen)動(dong)（正(zheng) 玄）綜合試(shi)驗導則(ze)
16.gb/t2424.23-90電工(gong)電子(zi)產品基本(ben)環(huan)境試驗規程 水試驗導則(ze)
17.gb/t2424.24-1995 電工電子產品基本環境試驗規程 溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正玄）綜合試驗導則
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