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HAST試(shi)驗箱
HAST試(shi)驗(yan)箱試(shi)驗(yan)的(de)(de)(de)目的(de)(de)(de)是提高環境應力(如:溫(wen)度)與工作應力(施加給產品的(de)(de)(de)電壓、負荷.等),加快(kuai)試(shi)驗(yan)過(guo)程,縮短產品或系統的(de)(de)(de)壽(shou)命(ming)試(shi)驗(yan)時間,用于調查分析何時出現電子元器件(jian),和機械零(ling)件(jian)的(de)(de)(de)摩耗和使(shi)(shi)用壽(shou)命(ming)的(de)(de)(de)問題,使(shi)(shi)用壽(shou)命(ming)的(de)(de)(de)故(gu)障分布函(han)數呈什(shen)么樣的(de)(de)(de)形(xing)狀(zhuang),以及(ji)分析失效率(lv)上升(sheng)的(de)(de)(de)原因所進行的(de)(de)(de)試(shi)驗(yan)。
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